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仪器特点:
* 分光晶体为对数螺旋弯晶和全聚焦弯晶,特征X射线的强度比平晶要高几倍,因而分析精度比平晶设备高;
* X光管为下照式结构,避免了由于测量过程中因样品的破损而污染X光管和分光系统;
* 采用400W铑靶 X射线管,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率;
* 多固定元素道设计,避免了扫描型荧光仪上所必需的复杂的测角机械系统,有效降低了仪器故障率;
* 专利技术一体化X射线探测系统,有效降低探测器噪声,提高稳定性和抗干扰能力;
* 电控式流气密度控制器,在温度、大气压力和气源压力变化时,流气的密度严格保持一致,提高了分析数据的稳定性;
* 整机采用泵站与主机分体式结构,保证主机的分光系统远离真空泵等的振动、油雾和电磁干扰;
* 由基本参数法和经验系数法共同组成的基体效应校正方法,确保了各类样品定量分析的准确性。
技术参数:
* 分析元素:根据用户的应用要求配置从Na到U任意10种元素;
* 高压电源:400W(50KV,8mA);
* X射线管:Varian 400W铑靶 X射线管;
* 真空系统:高静音真空泵,一体式多路真空气动挡板阀,系统真空度<7Pa;
* 流气系统:高精度电控流气密度稳定控制器,流气密度控制精度<0.3%;
* 探测系统:采用流气正比计数管、前置放大和高压电源等一体化结构探测器,大大提高仪器的测量精度;
* 采用C8051F124 CPU、1024道数据采集器、12位ADC的多道分析器;
* 恒温室温度控制精度:±0.1℃;
* 单个样品测量时间:3~5min;
* 分析精度(典型值):σn-1(24小时稳定性,水泥生料,百分比含量)
SiO2、CaO ≤0.05%、 Na2O、MgO 等元素 ≤0.03%、 Cl-≤0.005% ;
* 供电电源:220±20V,50Hz。
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